無(wú)損檢測2級、3級培訓教材：數字射線(xiàn)檢測技術(shù)簡(jiǎn)介，目錄書(shū)摘

編輯推薦:　　《無(wú)損檢測2級、3級培訓教材：數字射線(xiàn)檢測技術(shù)》一書(shū)第1版出版后，受到了工業(yè)無(wú)損檢測技術(shù)界的廣泛關(guān)注。本書(shū)第2版以編寫(xiě)成適宜作為工業(yè)應用的數字射線(xiàn)檢測技術(shù)培訓教材為目標，以構成解決實(shí)際檢測問(wèn)題的檢測技術(shù)系統為內在線(xiàn)索，重新組織第1版的內容，簡(jiǎn)化、改寫(xiě)了一些理論性?xún)热?，補充了大量實(shí)際技術(shù)處理內容，編寫(xiě)了相關(guān)標準內容介紹、實(shí)驗與復習參考題。本書(shū)適合作為數字射線(xiàn)檢測Ⅱ、Ⅲ級人員的培訓

內容簡(jiǎn)介:　　《無(wú)損檢測2級、3級培訓教材：數字射線(xiàn)檢測技術(shù)》是根據ISO176362：2013標準編寫(xiě)的數字射線(xiàn)檢測技術(shù)培訓教材。本書(shū)針對已掌握了常規射線(xiàn)檢測技術(shù)的人員，提供系統性的工業(yè)應用數字射線(xiàn)檢測技術(shù)基礎知識，包括射線(xiàn)檢測技術(shù)的物理基礎，數字射線(xiàn)檢測的設備、基本理論、基本技術(shù)，等價(jià)性問(wèn)題，技術(shù)標準介紹等大量實(shí)際技術(shù)處理內容，并精心設計了實(shí)驗項目和復習參考題。附錄中深入介紹了與數字射線(xiàn)檢測技術(shù)相關(guān)的輻射探測器、采樣定理和成像過(guò)程基本理論，并給出部分復習參考題的答案。
　　本書(shū)適合作為數字射線(xiàn)檢測Ⅱ、Ⅲ級人員的培訓教材，書(shū)中標“*”的內容只要求Ⅲ級人員掌握，對Ⅱ級人員不要求。

目錄:前言
第1章 射線(xiàn)檢測技術(shù)的物理基礎
1.1 射線(xiàn)概念
1.1.1 射線(xiàn)分類(lèi)
1.1.2 X射線(xiàn)
1.1.3 γ射線(xiàn)
1.2 射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用
1.2.1 光電效應
1.2.2 康普頓效應
1.2.3 電子對效應
1.2.4 瑞利散射
1.3 射線(xiàn)衰減規律
1.3.1 基本概念
1.3.2 單色窄束射線(xiàn)的衰減規律
1.3.3 寬束連續譜射線(xiàn)的衰減規律
1.4 射線(xiàn)檢測技術(shù)的基本原理
復習參考題
第2章 輻射探測器與其他器件
2.1 輻射探測器概述
2.1.1 輻射探測器分類(lèi)
2.1.2 輻射探測器主要性能
2.1.3 輻射探測器基本性能
2.2 直接數字化射線(xiàn)檢測技術(shù)的輻射探測器
2.2.1 概述
2.2.2 非晶硅輻射探測器
2.2.3 非晶硒輻射探測器
2.2.4 CCD與CMOS輻射探測器
*2.2.5 分立輻射探測器（DDA）的響應校正和壞像素修正
*2.2.6 分立輻射探測器（DDA）的性能特點(diǎn)
2.3 間接數字化射線(xiàn)檢測技術(shù)的輻射探測器
2.3.1 成像板（IP板）
2.3.2 圖像增強器
*2.3.3 IP板系統性能特點(diǎn)
2.4 A/D轉換器
2.5 射線(xiàn)檢測的像質(zhì)計與線(xiàn)對卡
2.5.1 像質(zhì)計概述
2.5.2 常規像質(zhì)計
2.5.3 雙絲型像質(zhì)計
2.5.4 線(xiàn)對卡
復習參考題
第3章 數字射線(xiàn)檢測技術(shù)基本理論
3.1 數字圖像概念
3.2 圖像數字化基本理論
3.2.1 圖像數字化過(guò)程
3.2.2 采樣定理
3.2.3 量化方法
3.3 數字射線(xiàn)檢測圖像質(zhì)量
3.3.1 圖像對比度
3.3.2 圖像空間分辨率
*3.3.3 圖像信噪比SNR
*3.4 細節（缺陷）分辨能力
復習參考題
第4章 數字射線(xiàn)檢測基本技術(shù)
4.1 概述
4.2 探測器系統選擇
4.2.1 概述
4.2.2 探測器系統選擇的基本依據
*4.2.3 基本空間分辨率選擇
*4.2.4 規格化信噪比選擇
4.3 數字射線(xiàn)檢測透照技術(shù)控制
4.3.1 概述
4.3.2 最佳放大倍數
*4.3.3 曝光曲線(xiàn)
*4.3.4 動(dòng)態(tài)檢測方式技術(shù)控制
4.4 數字射線(xiàn)檢測其他技術(shù)控制
4.4.1 圖像數字化技術(shù)控制
4.4.2 圖像顯示與觀(guān)察條件
4.4.3 數字圖像處理技術(shù)
4.4.4 缺陷識別與質(zhì)量級別評定
*4.4.5 尺寸測量
*4.4.6 厚度測定
4.5 數字射線(xiàn)檢測圖像質(zhì)量控制
4.5.1 檢測圖像質(zhì)量指標控制
*4.5.2 圖像質(zhì)量的補償原則
*4.6 數字射線(xiàn)檢測技術(shù)級別近似設計
*4.6.1 概述
*4.6.2 檢測圖像常規像質(zhì)計指標設計
*4.6.3 檢測圖像不清晰度（空間分辨率）指標設計
*4.6.4 例題
*4.7 數字射線(xiàn)檢測技術(shù)穩定性控制
*4.7.1 概述
*4.7.2 檢驗工藝文件（檢驗程序文件）
*4.7.3 檢測系統性能的長(cháng)期穩定性試驗控制
*4.7.4 檢驗工藝卡編制
復習參考題
第5章 工業(yè)常用數字射線(xiàn)檢測系統
5.1 概述
5.2 分立輻射探測器（DDA）數字射線(xiàn)檢測系統
5.2.1 檢測系統組成
5.2.2 DDA檢測系統的技術(shù)控制
5.2.3 DDA檢測系統應用特點(diǎn)
5.3 IP板間接數字化射線(xiàn)檢測系統--CR系統
5.3.1 檢測系統組成與技術(shù)基本過(guò)程
5.3.2 CR系統的技術(shù)與應用特點(diǎn)
5.4 圖像增強器間接數字化射線(xiàn)檢測系統
5.4.1 圖像增強器檢測系統組成
5.4.2 圖像增強器檢測系統的技術(shù)與應用特點(diǎn)
*5.5 微焦點(diǎn)數字化射線(xiàn)檢測系統
*5.6 底片圖像數字化掃描技術(shù)
*5.6.1 掃描儀概述
*5.6.2 掃描儀的基本性能指標
*5.6.3 掃描技術(shù)
*5.6.4 掃描儀選用
復習參考題
*第6章 等價(jià)性問(wèn)題討論
*6.1 概述
*6.2 等價(jià)指標問(wèn)題分析
*6.3 等價(jià)技術(shù)級別評定
*6.3.1 概述
*6.3.2 被檢驗工件基本分析
*6.3.3 數字射線(xiàn)檢測系統基本性能測定評定
*6.3.4 數字射線(xiàn)檢測系統檢驗試驗
*6.3.5 等價(jià)技術(shù)級別評定方法
*6.3.6 例題
*6.4 等價(jià)范圍問(wèn)題的理論處理方法
*6.4.1 概述
*6.4.2 兩種射線(xiàn)檢測技術(shù)系統概括
*6.4.3 等價(jià)范圍問(wèn)題解答的基本理論
*6.4.4 矩形函數近似線(xiàn)擴散函數的近似處理
復習參考題
第7章 數字射線(xiàn)檢測技術(shù)標準介紹
7.1 國外數字射線(xiàn)檢測技術(shù)標準編制概況
*7.2 ASTM E25972007標準關(guān)于DDA基本性能測定的規定
*7.2.1 DDA基本空間分辨率測定規定
*7.2.2 DDA規格化信噪比測定規定
*7.3 ASTM E273710標準關(guān)于DDA基本性能測定的規定
*7.3.1 DDA系統性能測定試驗的總要求
*7.3.2 試件
*7.3.3 雙厚（度）板與單獨像質(zhì)計的測定試驗規定
*7.4 ASTM E2446-2005標準關(guān)于IP板系統基本性能測定規定
*7.4.1 IP板系統基本空間分辨力測定
*7.4.2 IP板系統規格化信噪比測量
*7.5 ASTM E244510標準關(guān)于IP板系統基本性能測定的規定
*7.5.1 試驗要求
*7.5.2 IP板系統基本空間分辨率測定試驗
*7.5.3 IP板系統規格化信噪比測定試驗
7.6 ISO 176362:2013標準簡(jiǎn)要介紹
7.6.1 ISO 176362:2013標準概況
7.6.2 標準規定內容的基本結構
7.6.3 標準主要規定內容
*7.6.4 對標準等價(jià)性說(shuō)明的簡(jiǎn)單分析
復習參考題
第8章 數字檢測技術(shù)實(shí)驗
8.1 輻射探測器系統基本性能測定實(shí)驗
實(shí)驗1 DDA輻射探測器基本空間分辨率與MTF測定
實(shí)驗2 DDA輻射探測器規格化（標準、歸一）信噪比測定
8.2 輻射探測器系統性能對缺陷檢驗的影響
實(shí)驗3 DDA輻射探測器像素尺寸對缺陷檢驗的影響
實(shí)驗4 IP板掃描讀出參數對缺陷檢驗的影響
8.3 數字射線(xiàn)檢查技術(shù)的最佳（幾何）放大倍數
實(shí)驗5 放大倍數對檢測圖像空間分辨率的影響
8.4 ISO 176362：2013標準規定的補償規則實(shí)驗
實(shí)驗6 曝光量對檢測圖像質(zhì)量的影響
附錄
附錄A 輻射探測器介紹
A.1 輻射探測器的物理基礎
A.2 氣體探測器
A.3 閃爍探測器
A.4 半導體輻射探測器
A.5 半導體探測器的輻射損傷
附錄B 采樣定理說(shuō)明
B.1 采樣概念
B.2 采樣定理概念
B.3 采樣定理討論方法
B.4 采樣定理確定方法
附錄C 成像過(guò)程基本理論
C.1 成像過(guò)程概念
C.2 成像過(guò)程的空間域分析
C.3 成像過(guò)程的空間頻域分析
C.4 線(xiàn)擴散函數、邊擴散函數與不清晰度
C.5 卷積概念與傅里葉變換的概念
附錄D 部分復習參考題答案
參考文獻