材料科學(xué)與工程著(zhù)作系列：分析電子顯微學(xué)導論（第二版 附光盤(pán)）簡(jiǎn)介，目錄書(shū)摘

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內容簡(jiǎn)介:　　分析電子顯微學(xué)是揭示材料介觀(guān)和微觀(guān)世界的有力手段，它能對材料顯微組織的形貌、結構、成分進(jìn)行三位一體的原位分析?！恫牧峡茖W(xué)與工程著(zhù)作系列：分析電子顯微學(xué)導論（第二版）》是材料科學(xué)與工程專(zhuān)業(yè)碩士研究生的教材。全書(shū)共分六章，其內容包括分析電子顯微鏡的構造及其功能、試樣的制備方法、電子衍射花樣的特征和標定方法、晶體衍射中的數學(xué)處理、電子衍射襯度運動(dòng)學(xué)和動(dòng)力學(xué)理論及其應用、高分辨和高空間分析電子顯微術(shù)的原理和應用以及分析電子顯微學(xué)的進(jìn)展。
　　《材料科學(xué)與工程著(zhù)作系列：分析電子顯微學(xué)導論（第二版）》是掌握分析電子顯微術(shù)原理和應用的入門(mén)書(shū)，注重基本的物理概念和相關(guān)的數學(xué)推導，并通過(guò)實(shí)例來(lái)幫助讀者理解，配以思考題和練習題使讀者掌握重點(diǎn)?！恫牧峡茖W(xué)與工程著(zhù)作系列：分析電子顯微學(xué)導論（第二版）》配有電子課件和練習題參考答案光盤(pán)，便于教師授課?！恫牧峡茖W(xué)與工程著(zhù)作系列：分析電子顯微學(xué)導論（第二版）》也可作為在該領(lǐng)域學(xué)習和研究的科技人員的參考書(shū)。

作者簡(jiǎn)介:

目錄:緒論

第一章 分析電子顯微鏡的構造及其功能
1.1 電子波長(cháng)和電磁透鏡
1.1.1 電子波長(cháng)
1.1.2 電磁透鏡
1.2 構造及其特性
1.2.1 照明系統
1.2.2 多功能試樣室
1.2.3 成像系統
1.2.4 圖像觀(guān)察與記錄系統
1.2.5 真空和供電系統
1.2.6 儀器的計算機控制和分析數據的計算機處理
1.3 成像、變倍和衍射實(shí)現的原理
1.4 理論分辨本領(lǐng)極限
1.5 焦深和場(chǎng)深
參考文獻

第二章 透射電子顯微鏡試樣的制備方法
2.1 表面復型技術(shù)
2.1.1 一級復型
2.1.2 塑料一碳二級復型
2.1.3 抽取復型
2.2 粉末試樣和薄膜試樣的制備
2.2.1 粉末試樣的制備
2.2.2 薄膜試樣的制備
2.3 塊體試樣制成薄膜的技術(shù)
2.3.1 金屬塊體制成薄膜試樣
2.3.2 無(wú)機非金屬塊體制成薄膜試樣
2.3.3 高分子塊體制成薄膜試樣
2.3.4 聚焦離子束方法
參考文獻

第三章 電子衍射
3.1 電子衍射與x射線(xiàn)衍射的比較
3.2 衍射產(chǎn)生的條件
3.2.1 幾何條件
3.2.2 物理條件
3.3 電子衍射幾何分析公式及相機常數
3.3.1 電子衍射儀中的衍射
3.3.2 透射電子顯微鏡中的衍射
3.4 選區電子衍射的原理及操作
3.5 多晶電子衍射花樣及其應用
3.5.1 多晶電子衍射花樣的產(chǎn)生及幾何特征
3.5.2 多晶電子衍射花樣的應用
3.6 單晶電子衍射花樣及其應用
3.6.1 單晶電子衍射花樣的幾何特征和強度
3.6.2 單晶電子衍射花樣的標定方法
3.6.3 單晶電子衍射花樣的基本應用
3.7 大量平行層錯的單晶電子衍射花樣
3.7.1 平面缺陷的衍射
3.7.2 HCP結構的花樣特征和層錯概率的計算
3.7.3 FCC結構的花樣特征和層錯概率的計算
3.8 系統傾轉技術(shù)及其應用
3.8.1 雙傾臺系統傾轉技術(shù)
3.8.2 電子束方向的測定
3.8.3 重位點(diǎn)陣特征參數的測定
3.8.4 三維重構法確定物相
3.8.5 跡線(xiàn)分析方法
3.8.6 位向唯一性的確定
3.9 復雜電子衍射花樣的特征和標定方法
3.9.1 具有取向關(guān)系的電子衍射花樣
3.9.2 孿晶電子衍射花樣
3.9.3 高階勞厄花樣
3.9.4 超點(diǎn)陣衍射花樣
3.9.5 二次衍射花樣
3.9.6 調幅結構的電子衍射花樣
3.9.7 長(cháng)周期結構的電子衍射花樣
3.9.8 菊池電子衍射花樣
參考文獻

第四章 晶體衍射中的數學(xué)處理
4.1 取向關(guān)系的轉換矩陣
4.1.1 基體任意位向下兩相取向花樣的預測
4.1.2 晶體在不同坐標下的晶向和晶面指數的轉換矩陣
4.1.3 晶體間的重位點(diǎn)陣
4.1.4 孿晶關(guān)系的轉換矩陣
4.2 取向關(guān)系的理論預測
4.2.1 原理和判據
4.2.2 FCC／BCC體系
4.2.3 HCP／BCC體系
4.2.4 HCP／FCC體系
4.3 晶體對稱(chēng)性引起的系統消光
4.3.1 對稱(chēng)元素及其對應操作的矩陣
4.3.2 宏觀(guān)對稱(chēng)元素的組合規律
4.3.3 點(diǎn)群的推導和轉換矩陣
4.3.4 點(diǎn)群、晶系和布拉維點(diǎn)陣之間的關(guān)系
4.3.5 空間群中的平移對稱(chēng)元素
4.3.6 等效點(diǎn)系
4.3.7 二維點(diǎn)陣、平面點(diǎn)群和平面群
4.3.8 電子衍射花樣的對稱(chēng)性
4.3.9 系統消光
4.3.1 0 晶體對稱(chēng)性在結構分析中的應用舉例
參考文獻

第五章 電子衍射襯度成像
5.1 電子像襯度的分類(lèi)及其成像方法
5.1.1 質(zhì)厚襯度成像原理
5.1.2 衍射襯度成像原理
5.1.3 相位襯度成像原理
5.2 衍襯運動(dòng)學(xué)理論
5.2.1 基本假設和近似處理
5.2.2 完整晶體衍襯的運動(dòng)學(xué)方程
5.2.3 完整晶體運動(dòng)學(xué)衍襯理論的實(shí)驗驗證
5.2.4 缺陷晶體衍襯的運動(dòng)學(xué)理論及其應用
5.3 衍襯動(dòng)力學(xué)理論（波動(dòng)光學(xué)方程）
5.3.1 電子的散射及其交互作用
5.3.2 完整晶體衍襯動(dòng)力學(xué)方程
5.3.3 完整晶體的動(dòng)力學(xué)方程的解
5.3.4 厚度消光和彎曲消光
5.3.5 反常吸收效應
5.3.6 缺陷晶體衍襯動(dòng)力學(xué)方程及其應用
5.3.7 缺陷晶體衍襯像的計算機模擬及其應用
參考文獻

第六章 高分辨和高空間分析電子顯微術(shù)
6.1 高分辨電子顯微術(shù)
6.1.1 傅里葉變換與卷積理論
6.1.2 高分辨像形成過(guò)程描述的兩個(gè)重要函數
6.1.3 弱相位體高分辨像的直接解釋
6.1.4 高分辨像的多層法計算機模擬
6.1.5 高分辨像顯示位錯特征的方法
6.1.6 用高分辨像確定未知晶體結構的方法
6.2 會(huì )聚束電子衍射
6.2.1 各種衍射方式及其特點(diǎn)的比較
6.2.2 會(huì )聚束電子衍射花樣的形成和特征
6.2.3 HOLZ線(xiàn)的指標化
6.2.4 會(huì )聚束電子衍射的應用舉例
6.3 薄膜試樣的X射線(xiàn)能譜分析
6.3.1 X射線(xiàn)固體探測器的原理
6.3.2 薄試樣成分定量分析原理及特點(diǎn)
6.4 電子能量損失譜及其定量微觀(guān)分析
6.4.1 電子能量損失譜儀
6.4.2 電子能量損失譜
6.4.3 電子過(guò)濾成像和衍射
6.5 分析電子顯微學(xué)進(jìn)展
6.5.1 負球差系數成像技術(shù)
6.5.2 定量掃描透射電子顯微術(shù)
6.5.3 電子全息術(shù)
參考文獻

附錄1 物理常數和換算關(guān)系
附錄2 晶體幾何關(guān)系
附錄3 立方晶體的晶面（或晶向）夾角表
附錄4 面心立方、體心立方和密排六方標準電子衍射花樣
附錄5 面心立方、體心立方和密排六方高階勞厄標準電子衍射花樣
附錄6 材料常見(jiàn)的幾種結構
附錄7 立方和六方晶系的極圖（c／α=1.6 33）
附錄8 立方晶體重位點(diǎn)陣特征參數之間的關(guān)系
附錄9 電子的原子散射振幅
附錄10 特征X射線(xiàn)的波長(cháng)和能量表
附錄11 用于電子能量損失譜的電子結合能表（EELS）
附錄12 分析電子顯微學(xué)的有關(guān)計算機軟件
附錄出處說(shuō)明
思考題與練習題