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    電子產(chǎn)品可靠性預計簡(jiǎn)介,目錄書(shū)摘

    2020-04-07 10:42 來(lái)源:京東 作者:京東
    電子產(chǎn)品
    電子產(chǎn)品可靠性預計
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    內容簡(jiǎn)介:  《電子產(chǎn)品可靠性預計》從工程實(shí)用的角度介紹電子產(chǎn)品可靠性預計的必要性和基本概念,詳細論述電子系統可靠性預計建模、可靠性預計的方法和程序,重點(diǎn)介紹元器件應力分析法和計數法,給出大量的應用實(shí)例,并結合典型的可靠性預計軟件工具,說(shuō)明如何實(shí)現電子產(chǎn)品的可靠性預計。
      《電子產(chǎn)品可靠性預計》共分12章,內容包括可靠性預計的作用和意義;可靠性預計的常用方法、程序和一般要求;常用的產(chǎn)品壽命分布類(lèi)型和可靠性模型的建立方法;元器件失效率預計所涉及的參數定義及其選取方法;用計數法和應力分析法進(jìn)行可靠性預計的步驟和實(shí)例;電子產(chǎn)品非工作狀態(tài)的可靠性預計;可靠性預計的準確性和局限性,分析影響可靠性預計準確性的因素;可靠性預計與其他可靠性工作的關(guān)系;可靠性預計軟件工具的應用方法。
      《電子產(chǎn)品可靠性預計》可供從事質(zhì)量與可靠性工作的技術(shù)和管理人員參考,亦可作為電子產(chǎn)品可靠性預計技術(shù)培訓教材,同時(shí)也可作為高等院校相關(guān)專(zhuān)業(yè)的參考書(shū)。
    作者簡(jiǎn)介:
    目錄:第1章 概論
    1.1 可靠性預計的意義
    1.2 可靠性預計的作用

    第2章 可靠性預計的方法及程序
    2.1 可靠性預計的主要方法
    2.2 基于數理統計的可靠性預計的現實(shí)意義
    2.3 可靠性預計標準的發(fā)展及其主要分類(lèi)
    2.4 元器件計數法和應力分析法可靠性預計程序
    2.5 相似預計法的程序
    2.5.1 相似產(chǎn)品法
    2.5.2 相似電路法
    2.6 上下限法預計程序
    2.6.1 上限值的計算
    2.6.2 下限值的計算
    2.6.3 上下限值的綜合計算
    2.7 可靠性預計的一般要求
    2.7.1 正確選用合適的標準
    2.7.2 可靠性預計的反復迭代
    2.7.3 可靠性預計報告

    第3章 產(chǎn)品可靠性表征與壽命分布
    3.1 產(chǎn)品的可靠性指標
    3.1.1 常用的可靠性指標
    3.1.2 產(chǎn)品的壽命特征量
    3.2 可靠性指標間的相互關(guān)系
    3.3 產(chǎn)品的壽命分布
    3.3.1 指數分布
    3.3.2 正態(tài)分布
    3.3.3 對數正態(tài)分布
    3.3.4 威布爾分布
    3.4 浴盆曲線(xiàn)與失效率等級
    3.4.1 失效率的單位
    3.4.2 失效率的等級
    3.5 維修度與有效度

    第4章 電子設備及系統可靠性模型的建立
    4.1 可靠性模型的組成
    4.2 基本可靠性和任務(wù)可靠性
    4.2.1 基本可靠性
    4.2.2 任務(wù)可靠性
    4.2.3 基本可靠性和任務(wù)可靠性預計結果的權衡
    4.3 系統可靠性模型
    4.3.1 串聯(lián)系統
    4.3.2 并聯(lián)系統
    4.3.3 循環(huán)工作的可靠性模型
    4.3.4 表決系統(n中取r系統)
    4.3.5 溫儲備系統
    4.3.6 串聯(lián)、并聯(lián)系統可靠性的計算
    4.3.7 冷儲備系統
    4.3.8 網(wǎng)絡(luò )系統
    4.3.9 共因故障模型
    4.4 建立可靠性模型的程序和原則
    4.4.1 建立系統可靠性模型的程序
    4.4.2 確定產(chǎn)品定義
    4.4.3 建立任務(wù)可靠性框圖
    4.4.4 建立相應的數學(xué)模型
    4.4.5 可靠性預計時(shí)建模工作的注意事項

    第5章 元器件失效率預計
    5.1 國軍標《電子設備可靠性預計手冊分內容簡(jiǎn)介
    5.1.1 GJB299C《電子設備可靠性預計手冊》的新增內容
    5.2 元器件失效率預計模型
    5.3 元器件的質(zhì)量等級與質(zhì)量系數
    5.3.1 元器件的質(zhì)量等級
    5.3.2 質(zhì)量標記的正確采用與識別
    5.4 應用環(huán)境分類(lèi)與環(huán)境系數πE
    5.5 微處理器失效率預計示例
    5.5.1 計算示例
    5.6 普通雙極型晶體管失效率預計示例
    5.6.1 半導體分立器件的額定值
    5.6.2 電應力調整系數(C)和溫度(T)的校正
    5.6.3 電應力比的計算
    5.6.4 計算示例

    第6章 元器件計數法可靠性預計
    6.1 所需信息及方法
    6.2 計數法用的數據表
    6.3 預計示例

    第7章 元器件應力分析法的可靠性預計
    7.1 應力分析法的應用范圍
    7.2 電子設備可靠性預計示例

    第8章 電子產(chǎn)品非工作狀態(tài)的可靠性預計
    8.1 概述
    8.2 術(shù)語(yǔ)和定義
    8.3 一般程序
    8.4 元器件非工作可靠性詳細預計法
    8.4.1 元器件非工作可靠性詳細預計法的符號及數據表
    8.4.2 預計示例
    8.5 元器件非工作可靠性計數預計法
    8.5.1 預計舉例

    第9章 特殊的可靠性預計
    第10章 可靠性預計的準確性和局限性
    第11章 可靠性預計與其他可靠性工作項目的關(guān)系.
    第12章 可靠性預計軟件工具的應用
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