X射線(xiàn)熒光光譜分析簡(jiǎn)介，目錄書(shū)摘

內容簡(jiǎn)介:　　吉昂等編著(zhù)的這本《X射線(xiàn)熒光光譜分析》為《中國科學(xué)院研究生教學(xué)叢書(shū)》之一。
　　《X射線(xiàn)熒光光譜分析》系統地介紹了X射線(xiàn)熒光光譜分析的理論、測試技術(shù)和實(shí)際應用，以及近年來(lái)的重要進(jìn)展。書(shū)中重點(diǎn)論述了波長(cháng)色散和能量色散X射線(xiàn)熒光光譜所涉及的基本理論和實(shí)驗技術(shù)、理論強度計算公式、基體校正、樣品制備、定量分析和光譜儀結構性能等內容。此外，《X射線(xiàn)熒光光譜分析》還對近年來(lái)提出的半定量分析、薄膜和鍍層分析、不確定度評定、化學(xué)計量學(xué)研究在X射線(xiàn)熒光光譜分析中的應用及普通波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應用等領(lǐng)域作了專(zhuān)門(mén)論述。
　　《X射線(xiàn)熒光光譜分析》概念清晰、圖文并茂、結合實(shí)際，既可作為綜合性大學(xué)及理工科院?；瘜W(xué)及化學(xué)工程專(zhuān)業(yè)學(xué)生和教師的教學(xué)用書(shū)，也可供從事X射線(xiàn)熒光光譜分析的工作者和科學(xué)研究人員參考。

目錄:前言
緒論

第一篇 X射線(xiàn)熒光光譜基本原理
第一章 X射線(xiàn)物理學(xué)基礎
§1．1 X射線(xiàn)的本質(zhì)和定義
§1．2 X射線(xiàn)光譜
§1．3 莫塞萊定律
§1．4 X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用
§1．5 布拉格定律
§1．6 俄歇效應和熒光產(chǎn)額
§1．7 譜線(xiàn)分數
參考文獻
第二章 X射線(xiàn)熒光強度的理論計算
§2．1 概述
§2．2 激發(fā)因子
§2．3 X光管原級譜的強度分布和譜儀的幾何因子
§2．4 一次（原級）熒光強度的計算
§2．5 二次（次級）熒光強度的計算
§2．6 三次（第三級）熒光強度的計算
§2．7 X射線(xiàn)熒光相對強度理論計算的小結
參考文獻

第二篇 X射線(xiàn)熒光光譜儀的結構和性能
第三章 激發(fā)源和探測器
§3．1 概述
§3．2 激發(fā)源
§3．3 探測器
參考文獻
第四章 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀的結構和性能
§4．1 概述
§4．2 光源
§4．3 原級譜濾光片
§4．4 通道面罩和準直器
§4．5 分光晶體
§4．6 探測器
§4．7 測角儀
§4．8 脈沖高度分析器
§4．9 系統軟件
§4．10 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀的性能測試方法
參考文獻
第五章 能量色散和全反射X射線(xiàn)熒光光譜儀
§5．1 能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
§5．2 譜峰位和譜強度數據的提取
§5．3 基體校正
§5．4 全反射X射線(xiàn)熒光光譜儀
參考文獻

第三篇 X射線(xiàn)熒光光譜定性和定量分析
第六章 基本參數法和影響系數法
§6．1 概述
§6．2 元素間吸收增強效應
§6．3 基本參數法
§6．4 理論影響系數法
§6．5 基本參數法和理論影響系數法的應用
§6．6 經(jīng)驗系數法
參考文獻
第七章 實(shí)驗校正法
§7．1 校正曲線(xiàn)法
§7．2 內標法
§7．3 標準加入法和標準稀釋法
參考文獻
第八章 定性和半定量分析
§8．1 概述
§8．2 定性分析
§8．3 半定量分析
參考文獻
第九章 定量分析
§9．1 概述
§9．2 波長(cháng)色散譜儀定量分析條件的選擇
§9．3 能量色散譜儀定量分析條件的選擇
§9．4 校正曲線(xiàn)的制定
§9．5 定量分析方法簡(jiǎn)介
§9．6 定量分析方法的準確度評價(jià)
§9．7 儀器漂移的校正
參考文獻
第十章 薄膜和多層膜分析
§10．1 薄試樣和厚試樣
§10．2 單層和多層膜的熒光強度計算
§10．3 非無(wú)限厚試樣的定量分析
參考文獻

第四篇 樣品制備和不確定度評定
第十一章 樣品制備
§11．1 基本概念
§11．2 樣品的預加工
§11．3 固體樣品的制備方法
§11．4 液體樣品的制備方法
§11．5 富集技術(shù)在樣品制備中的應用
參考文獻
第十二章 不確定度評定
§12．1 基礎知識
§12．2 不確定度的評定
§12．3 X射線(xiàn)熒光光譜定量分析中的不確定度來(lái)源
§12．4 結語(yǔ)
參考文獻

第五篇 化學(xué)計量學(xué)和化學(xué)態(tài)分析
第十三章 化學(xué)計量學(xué)研究在X射線(xiàn)熒光分析中的應用
§13．1 概述
§13．2 基體校正方程與化學(xué)計量學(xué)之間的關(guān)系
§13．3 偏最小二乘法
§13．4 因子分析
§13．5 模式識別
§13．6 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò )
§13．7 知識工程
參考文獻
第十四章 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應用
§14．1 概述
§14．2 高分辨率X射線(xiàn)熒光光譜儀
§14．3 普通波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀分辨率的測定及改善
§14．4 譜處理方法
§14．5 X射線(xiàn)熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應用
參考文獻
附錄
附錄1 吸收限波長(cháng)和臨界激發(fā)能量
附錄2 特征X射線(xiàn)波長(cháng)和能量
附錄3 輻射躍遷幾率
附錄4 K系伴線(xiàn)波長(cháng)(A)
附錄5 熒光產(chǎn)額和Coster-Kronig躍遷幾率